方法一:比擬法
具體方法是:讓有妨礙的儀表和正常儀表在雷同環(huán)境下運(yùn)行,而后檢測(cè)一些點(diǎn)的信號(hào)再比力所測(cè)的兩組信號(hào),如有差別,則可以斷定妨礙出在這里。這種方法要求維修人員具有相稱(chēng)的知識(shí)和技能。
要求有兩臺(tái)同型號(hào)的儀表,并有一臺(tái)是正常運(yùn)行的。利用這種方法還要具備須要的設(shè)置裝備擺設(shè),比方,萬(wàn)用表、示波器等。按比力的性子分有,電壓比力、波形比力、靜態(tài)阻抗比力、輸出結(jié)果比力、電流比力等。
方法二:電容旁路法
當(dāng)某一電路產(chǎn)生比力稀罕的現(xiàn)象,比方顯示器混亂時(shí),可以用電容旁路法確定大約出妨礙的電路部分。
方法三:隔離法
妨礙隔離法不需要雷同型號(hào)的設(shè)置裝備擺設(shè)或備件作比力,而且安全可靠。根據(jù)妨礙檢測(cè)流程圖,支解困繞逐步減少妨礙搜索范圍,再配合信號(hào)比擬、部件互換等方法,一般會(huì)很快查到妨礙之地點(diǎn)。
方法四:敲擊法
經(jīng)常會(huì)遇到恒溫恒濕試驗(yàn)箱運(yùn)行時(shí)好時(shí)壞的現(xiàn)象,這種現(xiàn)象絕大多數(shù)是由于接觸不良或虛焊形成的。對(duì)于這種環(huán)境可以采用敲擊與手壓法。
所謂的“敲擊”就是對(duì)大約產(chǎn)生妨礙的部位,通過(guò)小橡皮鎯頭或其他敲擊物悄悄敲打插件板或部件,看看是否會(huì)惹起墮落或停機(jī)妨礙。所謂“手壓”就是在妨礙出現(xiàn)時(shí),關(guān)上電源后對(duì)插的部件和插頭和座重新用手壓牢,再開(kāi)機(jī)嘗嘗是否會(huì)消弭妨礙。如果發(fā)現(xiàn)敲打一下機(jī)殼正常,再敲打又不正常時(shí),z好先將所有接頭重插牢再試,若不可功,只好另想辦法了。
方法五:狀態(tài)調(diào)解法
一般來(lái)說(shuō),在妨礙未確定前,不要隨便觸動(dòng)電路中的元器件特別是可調(diào)解式器件更是云云,例電位器等。但是如果無(wú)紙記錄儀事前采取復(fù)參考措施(比方,在未觸動(dòng)前先做好位置記號(hào)或測(cè)出電壓值或電阻值等),須要時(shí)還是容許觸動(dòng)的。大約轉(zhuǎn)變之后偶然妨礙會(huì)消弭。
IC的電源和地端;對(duì)晶體管電路跨接在基極輸出端或集電極輸出端,觀察對(duì)妨礙現(xiàn)象的影響。如果黑色無(wú)紙記錄儀電容旁路輸出端無(wú)效而旁路它的輸出端時(shí)妨礙現(xiàn)象消散,則確定妨礙就出現(xiàn)在這一級(jí)電路中。
利用視覺(jué)、嗅覺(jué)、觸覺(jué)。某些時(shí)間,破壞了的元件會(huì)變色、起泡或出現(xiàn)燒焦的斑點(diǎn);燒壞的器件會(huì)產(chǎn)生一些特別的氣息;短路的芯片會(huì)發(fā)燙;用肉眼也能觀察到虛焊或脫焊處。
湖北高天主要生產(chǎn):恒溫恒濕機(jī),恒溫恒濕試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī),高低溫試驗(yàn)箱,高低溫交變?cè)囼?yàn)箱,高低溫濕熱試驗(yàn)箱,高低溫老化試驗(yàn)箱,快溫變?cè)囼?yàn)箱,三綜合試驗(yàn)箱,鹽霧試驗(yàn)箱,復(fù)合式鹽霧試驗(yàn)箱,冷熱沖擊試驗(yàn)箱,高低溫沖擊試驗(yàn)箱,老化房,大型高低溫房,步入式恒溫恒濕試驗(yàn)房(專(zhuān)業(yè)定制),工業(yè)烤箱,恒溫烤箱,快溫變?cè)囼?yàn)箱,快速溫度變化試驗(yàn)箱,防水|防雨|擺管裝置等(可定制)淋雨試驗(yàn)箱滿足IPX1~IPX9標(biāo)準(zhǔn),防塵|耐塵|沙塵|砂塵試驗(yàn)箱,UV紫外光耐氣候試驗(yàn)箱,氙燈老化試驗(yàn)箱,氙燈耐候試驗(yàn)箱等環(huán)境類(lèi)試驗(yàn)設(shè)備。
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